超聲探傷—UT
LEPTOSKOP2042NFE涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品品牌：德國(guó)卡爾德意志（德國(guó)KD）
產(chǎn)品型號(hào)：
市場(chǎng)價(jià)格：詢價(jià)
商城價(jià)格：QQ在線詢價(jià)
點(diǎn)擊數(shù)量：1482
產(chǎn)品說(shuō)明：
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
技術(shù)參數(shù)：
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儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求。
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
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大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準(zhǔn)選項(xiàng)
出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
在未知涂層上校準(zhǔn)*
零校準(zhǔn)*
在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出
可選擇的顯示模式，以最佳形式去完成測(cè)量任務(wù)*
輸入和極限監(jiān)視*
在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統(tǒng)計(jì)*
可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
最小值、最大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括
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